最近，随着芯片应用无孔不入，芯片测试的重要性日益凸显。芯片测试是指对芯片的电器参数，尺寸，性能和可靠性等进行测试评估，以保证芯片在生产中的品质及性能。芯片测试是芯片制造流程中非常重要的一个环节，它不仅能保障芯片质量，还能有效减少不良的芯片流入市场的数量，降低后期成本和风险。
芯片测试技术主要包括逻辑测试、封装测试、显存测试、内存测试、嵌入式测试等。其中，逻辑测试是芯片测试中的核心，它使用电路（或原理）模型来测试芯片是否能按照预定的设计逻辑进行运行。封装测试则是测试芯片良品率最直接的一个环节，主要测试芯片的表面的引脚引出是否正常、电学特性等参数。
实际上，芯片测试技术在不断升级。传统的测试方法已经不能满足当前芯片的需求，现代芯片测试技术不仅要求测试速度快，精度高，而且需要遵循国内国际质量标准，结合芯片产业的发展趋势，加强综合电子信息测试技术平台的建设，同时，必须发展面向特定应用领域的测试技术，这样才能满足新兴应用的需求。
